高低溫試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律的功能，主要針對(duì)產(chǎn)品及材料在溫度變化較快的環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，適用于電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫、低溫及高低溫漸變?cè)囼?yàn)，供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。那么如何利用該設(shè)備進(jìn)行樣品測(cè)試呢？
1.測(cè)試準(zhǔn)備階段：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)空氣中，直至溫度穩(wěn)定。將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行對(duì)照，符合要求后直接放入試驗(yàn)箱。
2.進(jìn)行樣品測(cè)試：
(1)被測(cè)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，設(shè)置測(cè)試條件，使箱內(nèi)溫度升至相應(yīng)溫度，保持一段時(shí)間直至被測(cè)樣品到溫度穩(wěn)定，高溫測(cè)試時(shí)間以標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
(2)高溫測(cè)試結(jié)束后，在5分鐘內(nèi)將試樣移動(dòng)至箱內(nèi)，保持一段時(shí)間或直到試樣溫度穩(wěn)定為止，具體以測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
(3)低溫階段結(jié)束后，在5分鐘內(nèi)將樣品移動(dòng)至箱內(nèi)，保持一段時(shí)間或直到試樣溫度穩(wěn)定為止，具體以測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
(4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣品的大小和空間的大小，時(shí)間可能會(huì)稍有誤差。
3.測(cè)試結(jié)束分析：試樣從試驗(yàn)箱中取出后，應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下恢復(fù)，直至試樣溫度穩(wěn)定。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度和其他方法評(píng)定檢查結(jié)果。
